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吉田尚樹さん(修士1年)が公益社団法人応用物理学会23rd International Colloquium on Scanning Probe Microscopyの優秀ポスター賞を受賞しました。

受賞日: 2015年12月11日
氏名: 吉田 尚樹
学年: 修士1年
所属: 情報科学研究科 情報エレクトロニクス専攻 先端エレクトロニクス講座 ナノエレクトロニクス研究室
授与団体: 公益社団法人応用物理学会 23rd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
賞名: 優秀ポスター賞
受賞論文名,研究題目名または受賞理由:
「Study for the measurement of interaction force by means of FM-AFM (FM-AFMを用いた相互作用力の測定に関する研究)」
問い合わせ先: Tel 011-706-6537, E-mail sueoka[a]ist.hokudai.ac.jp (末岡和久)

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